Impact of scaling on the performance of HfO<inf>2</inf>-based ferroelectric field effect transistors

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

E. Yurchuk - (Autor:in)
J. Muller - , Professur für Biodiversität und Naturschutz (Autor:in)
J. Paul - , Klinik und Poliklinik für Psychotherapie und Psychosomatik (Autor:in)
T. Schlosser - (Autor:in)
D. Martin - (Autor:in)
R. Hoffmann - (Autor:in)
S. Mueller - (Autor:in)
S. Slesazeck - (Autor:in)
U. Schroeder - (Autor:in)
R. Boschke - (Autor:in)
R. Van Bentum - (Autor:in)
T. Mikolajick - , Professur für Nanoelektronik (Autor:in)

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	3699 - 3706
Seitenumfang	8
Fachzeitschrift	IEEE transactions on electron devices : ED
Jahrgang	61
Ausgabenummer	11
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 17 Sept. 2014
Peer-Review-Status	Ja

Scopus	84908452164