Impact of hot carrier stress on small-signal parameters of FD-SOI NMOSFETs

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Titel2017 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)
ISBN (elektronisch)978-1-5386-2332-9
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018
Peer-Review-StatusJa

Publikationsreihe

ReiheIEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)
ISSN1930-8841

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