Imaging Nanoscale Morphology of Semiconducting Polymer Films with Photoemission Electron Microscopy

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Beitragende

  • Andreas Neff - , Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (Autor:in)
  • Falk Niefind - , Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (Autor:in)
  • Bernd Abel - , Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (Autor:in)
  • Stefan C.B. Mannsfeld - , Professur für Organische Bauelemente (cfaed) (Autor:in)
  • Katrin R. Siefermann - , Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (Autor:in)

Abstract

Photoemission electron microscopy in combination with polarized laser light is presented as a tool permitting direct imaging of polymer-chain orientation and local degree of order in semicrystalline samples of semiconducting polymers, a promising class of materials for future electronics. The key advantages of this imaging tool are its nondestructive and fast measurements, straightforward data analysis, the low complexity of sample preparation, and the possibility of performing measurements on a broad variety of technologically relevant substrates. The high spatial resolution of the microscope provides insights into the nanoscale morphology, which is relevant for the material's performance in electronic devices.

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer1701012
FachzeitschriftAdvanced materials
Jahrgang29
Ausgabenummer29
PublikationsstatusVeröffentlicht - 4 Aug. 2017
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

PubMed 28513882

Schlagworte

Forschungsprofillinien der TU Dresden

Schlagwörter

  • imaging, morphology, photoemission electron microscopy, semiconducting polymers, semicrystalline