High precision half-life measurement of Sm 147 α decay from thin-film sources

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Beitragende

  • H. Wilsenach - , Professur für Kernphysik, Technische Universität Dresden (Autor:in)
  • K. Zuber - , Professur für Kernphysik, Technische Universität Dresden (Autor:in)
  • D. Degering - , Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR) (Autor:in)
  • R. Heller - , Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR) (Autor:in)
  • Volker Neu - , Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)

Abstract

An investigation of the α decay of Sm147 was performed using an ultra-low-background twin Frisch-grid ionization chamber (TF-GIC). Four natural samarium samples were produced using pulsed laser deposition in ultrahigh vacuum. The abundance of the Sm147 isotope was measured using inductively coupled plasma mass spectrometry. A combined half-life value for Sm147 of 1.079(26)×1011 yr was measured. A search for the α decay into the first excited state of Nd143 has been performed using γ spectroscopy, resulting in a lower half-life limit of T1/2>3.1×1018 yr (at 90% C.L.).

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer034618
FachzeitschriftPhysical Review C
Jahrgang95
Ausgabenummer3
PublikationsstatusVeröffentlicht - 31 März 2017
Peer-Review-StatusJa

Schlagworte

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