FM demodulated Kelvin Probe Force Microscopy for Surface Photovoltage Tracking
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | S1-S6 |
| Seitenumfang | 6 |
| Fachzeitschrift | Nanotechnology |
| Jahrgang | 16 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2005 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 15844406595 |
|---|---|
| ORCID | /0000-0003-1899-603X/work/153109321 |
| ORCID | /0000-0002-2484-4158/work/153110727 |