FeRAM technology for high density applications

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

  • C. Dehm - (Autor:in)
  • W. Hartner - (Autor:in)
  • I. Kasko - (Autor:in)
  • M. J. Kastner - (Autor:in)
  • C. Mazure - (Autor:in)
  • T. Mikolajick - , Infineon Technologies Dresden GmbH & Co. KG (Autor:in)
  • M. Moert - (Autor:in)
  • N. Nagel - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)947-950
FachzeitschriftMicroelectronics Reliability
Jahrgang41
Ausgabenummer7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2001
Peer-Review-StatusJa
Extern publiziertJa

Externe IDs

Scopus 0035394951

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