Exploiting diffusion currents at Ohmic contacts for trap characterization in organic semiconductors

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)2428-2432
FachzeitschriftOrganic electronics
Jahrgang15
Ausgabenummer10
PublikationsstatusVeröffentlicht - Okt. 2014
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 84905171037
ORCID /0000-0002-9773-6676/work/142247035

Schlagworte

Schlagwörter

  • Drift-diffusion simulation, Space-charge limited currents, Mobility, Traps, Exponential distribution

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