Evaluation of Electron Microscopy Techniques for the Purpose of Classification of Nanomaterials

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Beitragende

  • Johannes Mielke - , Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) (Autor:in)
  • Frank Babick - , Arbeitsgruppe Mechanische Verfahrenstechnik (MVT) (Autor:in)
  • Toni Uusimäki - , Eawag - das Wasserforschungsinstitut des ETH-Bereichs (Autor:in)
  • Philipp Müller - , BASF SE (Autor:in)
  • Eveline Verleysen - , Federal Veterinary and Agrochemical Research Centre (Autor:in)
  • Vasile-Dan Hodoroaba - , Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)936-937
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and microanalysis
Jahrgang22
AusgabenummerS3
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2016
Peer-Review-StatusJa

Konferenz

TitelMicroscopy & Microanalysis 2016 Meeting
KurztitelM&M 2016
Dauer24 - 28 Juli 2016
OrtColumbus Convention Center
StadtColumbus
LandUSA/Vereinigte Staaten

Externe IDs

ORCID /0000-0001-5958-2111/work/173049759

Schlagworte