Electric potential mapping by thickness variation: A new method for model-free mobility determination in organic semiconductor thin films
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 3460-3471 |
| Seitenumfang | 12 |
| Fachzeitschrift | Organic electronics |
| Jahrgang | 14 |
| Ausgabenummer | 12 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 17 Sept. 2013 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 84888288254 |
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Schlagworte
Schlagwörter
- Organic semiconductors, Charge transport, Mobility, Thin films, Blend layers, Organic Solar Cells