Effect of film thickness, type of buffer layer, and substrate temperature on the morphology of dicyanovinyl-substituted sexithiophene films
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 2479-2487 |
| Fachzeitschrift | Thin solid films |
| Jahrgang | 520 |
| Ausgabenummer | 7 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 31 Jan. 2012 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 84856371239 |
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Schlagworte
Schlagwörter
- X-ray diffraction, X-ray reflectivity, Crystallite, Organic semiconductor, Sexithiophene