Drift-Diffusion Simulation for Quantitative Interpretation of STEM-EBIC on FIB-Prepared Silicon p-n Junctions
Publikation: Beitrag zu Konferenzen › Wissenschaftliche Vortragsfolien › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
- Transregio 404: Next Generation Electronics With Active Devices in Three Dimensions
Abstract
in Reliability and Transport Modeling Session
Details
Konferenz
| Titel | 52nd IEEE European Solid-State Electronics Research Conference |
|---|---|
| Untertitel | Advancing Chips, Advancing Europe |
| Kurztitel | ESSERC 2026 |
| Veranstaltungsnummer | 52 |
| Dauer | 7 - 10 September 2026 |
| Webseite | |
| Ort | Auditorium de Palma |
| Stadt | Palma de Mallorca |
| Land | Spanien |
Schlagworte
Forschungsprofillinien der TU Dresden
Schlagwörter
- C02