Comparative Study of the Long-term Reliability of HTLS Conductor Systems

Publikation: Beitrag zu KonferenzenPaperBeigetragen

Beitragende

  • W. Kiewitt - (Autor:in)
  • R. Bardl - (Autor:in)
  • Christian Kühnel - (Autor:in)
  • D. Loudon - (Autor:in)
  • D. Stengel - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten1-10
Seitenumfang10
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018
Peer-Review-StatusNein

Schlagworte

Schlagwörter

  • High temperature low sag conductors (HTLS), conductor grease, mechanical and electrical tests, ageing, reliability, joint resistance, stress-strain