Automatic Fault Detection in Rails of Overhead Transport Systems for Semiconductor Fabs
Publikation: Beitrag zu Konferenzen › Paper › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
Originalsprache | Englisch |
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Seiten | 1-6 |
Seitenumfang | 6 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2019 |
Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
Scopus | 85071051290 |
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ORCID | /0000-0002-1484-7187/work/142243088 |
Schlagworte
Schlagwörter
- Rails OHT, Artificial neural networks, Sensors Fault detection, Network topology, Neurons Training fault detection, AMHS