Atomic Resolution Imaging of the Edges of Catalytically Etched Suspended Few-Layer Graphene

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

  • Franziska Schaeffel - (Autor:in)
  • Mark Wilson - (Autor:in)
  • Alicja Bachmatiuk - (Autor:in)
  • Mark H. Ruemmeli - (Autor:in)
  • Ute Queitsch - (Autor:in)
  • Bernd Rellinghaus - , Leibniz Institute for Solid State and Materials Research Dresden (Autor:in)
  • G. Andrew D. Briggs - (Autor:in)
  • Jamie H. Warner - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1975-1983
Seitenumfang9
FachzeitschriftACS nano
Jahrgang5
Ausgabenummer3
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 März 2011
Peer-Review-StatusJa
Extern publiziertJa

Externe IDs

Scopus 79952963269

Schlagworte