An Approximate Binary Classifier for Data Integrity Assessment in IoT Sensors.

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Beitragende

Arlene John - (Autor:in)
Salim Ullah - , Professur für Prozessorentwurf (Prozessor Design) (cfaed) (Autor:in)
Akash Kumar - , Professur für Prozessorentwurf (Prozessor Design) (cfaed) (Autor:in)
Barry Cardiff - (Autor:in)
Deepu John - (Autor:in)

Originalsprache	Undefiniert
Titel	2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
Herausgeber (Verlag)	IEEE
Seiten	1-4
Seitenumfang	4
ISBN (elektronisch)	978-1-7281-6044-3
ISBN (Print)	978-1-7281-6045-0
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2020
Peer-Review-Status	Ja

Reihe	IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)

Scopus	85099478712