A zoom into the nanoscale texture of secondary cell walls

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

  • Tobias Keplinger - (Autor:in)
  • Johannes Konnerth - (Autor:in)
  • Veronique Aguie-Beghin - (Autor:in)
  • Markus Rüggeberg - , ETH Zurich, Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa) (Autor:in)
  • Notburga Gierlinger - (Autor:in)
  • Ingo Burgert - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
FachzeitschriftPlant methods
Jahrgang10
PublikationsstatusVeröffentlicht - 10 Jan. 2014
Peer-Review-StatusJa
Extern publiziertJa

Externe IDs

Scopus 84892394453
ORCID /0000-0002-6966-8311/work/142254821

Schlagworte

Schlagwörter

  • Secondary cell walls, Scanning near field optical microscopy, Atomic force microscopy, Diffraction limit, Lignification