A Low Active Leakage and High Reliability Phase Change Memory (PCM) Based Non-Volatile FPGA Storage Element

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)2605-2613
Seitenumfang9
FachzeitschriftIEEE Transactions on Circuits and Systems : a publication of the IEEE Circuits and Systems Society. 1, Regular Papers
Jahrgang61
Ausgabenummer9
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 84906951687

Schlagworte

Forschungsprofillinien der TU Dresden