A Low Active Leakage and High Reliability Phase Change Memory (PCM) Based Non-Volatile FPGA Storage Element

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Kejie Huang - (Autor:in)
Yajun Ha - (Autor:in)
Rong Zhao - (Autor:in)
Akash Kumar - , Professur für Prozessorentwurf (Prozessor Design) (cfaed), National University of Singapore (Autor:in)
Yong Lian - (Autor:in)

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	2605-2613
Seitenumfang	9
Fachzeitschrift	IEEE Transactions on Circuits and Systems : a publication of the IEEE Circuits and Systems Society. 1, Regular Papers
Jahrgang	61
Ausgabenummer	9
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2014
Peer-Review-Status	Ja

Scopus	84906951687