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Semiconductor Science and Technology

ISSNs: 0268-1242

Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1361-6641

IOP Publishing Ltd.

Scopus-Bewertung (2024): CiteScore 4,2 SJR 0,405 SNIP 0,775

Fachzeitschrift: Zeitschrift

Titel	Semiconductor Science and Technology Semiconductor science and technology
ISSNs	0268-1242
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch)	1361-6641
Verlag	IOP Publishing Ltd.
ZDB-ID	54647-1
ZDB-ID	1361285-2

Schlagworte

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Veröffentlichungen

Dependence of reverse leakage on the edge termination process in vertical GaN power device

Xie, T., da Silva, C., Szabó, N., Mikolajick, T. & Wachowiak, A., Jan. 2023, in: Semiconductor science and technology. 38, 1, 7 S., 015014.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Influence of fabrication parameters on the magnetic and structural properties of Mn₅Ge₃

Xie, Y., Li, Z., Begeza, V., Funk, H. S., Fischer, I. A., Zeng, Y. J. & Helm, M. & 2 weitere, Zhou, S. & Prucnal, S., Juni 2022, in: Semiconductor science and technology. 37, 6, 065009.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Single-step reactive ion etching process for device integration of hafnium-zirconium-oxide (HZO)/titanium nitride (TiN) stacks

Mauersberger, T., Trommer, J., Sharma, S., Knaut, M., Pohl, D., Rellinghaus, B. & Mikolajick, T. & 1 weitere, Heinzig, A., 1 Sept. 2021, in: Semiconductor science and technology. 36, 9, 6 S., 095025.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Material investigations for improving stability of Au free Ta/Al-based ohmic contacts annealed at low temperature for AlGaN/GaN heterostructures

Calzolaro, A., Hentschel, R., Edokam, I. F., Sizov, V., Mikolajick, T. & Wachowiak, A., Juli 2020, in: Semiconductor science and technology. 35, 7, 075011.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Improvement of NbO _x-based threshold switching devices by implementing multilayer stacks

Herzig, M., Weiher, M., Ascoli, A., Tetzlaff, R., Mikolajick, T. & Slesazeck, S., 6 Juni 2019, in: Semiconductor science and technology. 34, 7, 075005.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

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