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IEEE design & test : D & T

ISSNs: 2168-2356, 0740-7475

Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1558-1918, 2168-2364

IEEE, New York [u. a.], USA/Vereinigte Staaten

Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 3,8 SJR 0,489 SNIP 0,757

Fachzeitschrift: Zeitschrift

Titel
  • IEEE design & test : D & T(2013 → …)
  • IEEE design & test of computers : D & T(19842012)
ISSNs2168-2356, 0740-7475
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch)1558-1918, 2168-2364
VerlagIEEE, New York [u. a.]
Land/GebietUSA/Vereinigte Staaten
ZDB-ID2729075-X
ZDB-ID2714080-5

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