TEM Study of Schottky Junctions in Reconfigurable Silicon Nanowire Devices
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 180-184 |
| Seitenumfang | 5 |
| Fachzeitschrift | Advanced engineering materials |
| Jahrgang | 18 |
| Ausgabenummer | 2 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2016 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 84958936755 |
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