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Forschungsportal der TU Dresden

Strain Analysis for Reconfigurable Silicon Nanowire Devices

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen

Beitragende

Tim Baldauf - , Professur für Nanoelektronik (Autor:in)
Sayanti Bukovsk - (Autor:in)
Willem F Van Dorp - (Autor:in)
Markus Löffler - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)
Jens Trommer - , Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik (Autor:in)
André Heinzig - , Professur für Nanoelektronik (Autor:in)
Walter Michael Weber - (Autor:in)
Uwe Mühle - , Professur für Pulvermetallurgie, Sinter- und Verbundwerkstoffe (Autor:in)
Thomas Mikolajick - , Professur für Nanoelektronik (Autor:in)
Ehrenfried Zschech - , Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik, Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)

Details

Originalsprache	Englisch
Titel	Microscience Microscopy Congress, UK, Manchester
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2015
Peer-Review-Status	Nein

Externe IDs

ORCID	/0000-0003-3814-0378/work/142256120

Schlagworte