Site-selective spectroscopy with depth resolution using resonant x-ray reflectometry

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Beitragende

  • J. E. Hamann-Borrero - , Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
  • S. Macke - , University of British Columbia, Max-Planck-Institut für Festkörperforschung (Autor:in)
  • B. Gray - , University of Arkansas System (Autor:in)
  • M. Kareev - , Rutgers - The State University of New Jersey, New Brunswick (Autor:in)
  • E. Schierle - , Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie (HZB) (Autor:in)
  • S. Partzsch - , Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
  • M. Zwiebler - , Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
  • U. Treske - , Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
  • A. Koitzsch - , Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
  • B. Büchner - , Professur für Experimentelle Festkörperphysik (gB/IFW), Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
  • J. W. Freeland - , Argonne National Laboratory (Autor:in)
  • J. Chakhalian - , Rutgers - The State University of New Jersey, New Brunswick (Autor:in)
  • J. Geck - , Professur für Physik der Quantenmaterialien (Autor:in)

Abstract

Combining dissimilar transition metal oxides (TMOs) into artificial heterostructures enables to create electronic interface systems with new electronic properties that do not exist in bulk. A detailed understanding of how such interfaces can be used to tailor physical properties requires characterization techniques capable to yield interface sensitive spectroscopic information with monolayer resolution. In this regard resonant x-ray reflectivity (RXR) provides a unique experimental tool to achieve exactly this. It yields the element specific electronic depth profiles in a non-destructive manner. Here, using a YBa2Cu3O7-δ (YBCO) thin film, we demonstrate that RXR is further capable to deliver site selectivity. By applying a new analysis scheme to RXR, which takes the atomic structure of the material into account, together with information of the local charge anisotropy of the resonant ions, we obtained spectroscopic information from the different Cu sites (e.g., chain and plane) throughout the film profile. While most of the film behaves bulk-like, we observe that the Cu-chains at the surface show characteristics of electron doping, whereas the Cu-planes closest to the surface exhibit an orbital reconstruction similar to that observed at La1-x Ca x MnO3/YBCO interfaces.

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer13792
FachzeitschriftScientific reports
Jahrgang7
Ausgabenummer1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Dez. 2017
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 85032207753
PubMed 29061996

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