Revealing the formation dynamics of the electric double layer by means of in-situ Rutherford backscattering spectrometry

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
FachzeitschriftReview of Scientific Instruments
Jahrgang2020
Ausgabenummer8
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 85071314650
ORCID /0000-0001-5121-5974/work/171065100
ORCID /0000-0002-8740-8310/work/171065342

Schlagworte

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  • evealing the formation dynamics of the electric double layer by means of in-situ Rutherford backscattering spectrometry