Preparation and characterization of silicon nanowires using SEM/FIB and TEM

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)697-702
Seitenumfang6
FachzeitschriftInternational journal of materials research : IJMR
Jahrgang106
Ausgabenummer7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

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