Practical guide for validated memristance measurements

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Nan Du - (Autor:in)
Yao Shuai - (Autor:in)
Wenbo Luo - (Autor:in)
Christian Mayr - , Professur für Hochparallele VLSI-Systeme und Neuromikroelektronik (Autor:in)
René Schüffny - , Professur für Hochparallele VLSI-Systeme und Neuromikroelektronik (Autor:in)
Oliver G. Schmidt - (Autor:in)
Heidemarie Schmidt - (Autor:in)

Originalsprache	Englisch
Fachzeitschrift	Review of scientific instruments : a monthly journal devoted to scientific instruments, apparatus, and techniques
Jahrgang	84
Ausgabenummer	2
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 1 Dez. 2013
Peer-Review-Status	Ja

Scopus	84874926913