MaKiZu-Materialintegration und Kinetik von zuverlässigkeitslimitierenden Degradationsmechanismen in 1D-Elektronik-Systemen cfaed/DCN der Technischen Universität Dresden: Schlussbericht

Publikation: Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Monographie › Beigetragen

Beitragende

Details

OriginalspracheDeutsch
VerlagTechnische Universität Dresden, Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
Peer-Review-StatusNein

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