Investigation of Accumulative Switching in Ferroelectric FETs: Enabling Universal Modeling of the Switching Behavior

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)5804-5809
Seitenumfang6
FachzeitschriftIEEE transactions on electron devices : ED
Jahrgang67
Ausgabenummer12
PublikationsstatusVeröffentlicht - Dez. 2020
Peer-Review-StatusJa

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