Fundamentals of Electromigation-Aware Integrated Circuit Design
Publikation: Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Monographie › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Verlag | Springer, Cham |
| Seitenumfang | 159 |
| ISBN (elektronisch) | 978-3-319-73558-0 |
| ISBN (Print) | 978-3-319-73557-3, 978-3-030-08811-8 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2018 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 85045795155 |
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