Fundamentals of Electromigation-Aware Integrated Circuit Design
Publikation: Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Monographie › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
Originalsprache | Englisch |
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Verlag | Springer, Cham |
Seitenumfang | 159 |
ISBN (Print) | 978-3-319-73557-3 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2018 |
Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
Scopus | 85045795155 |
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