Digital Twin Generation for Operational Resilience Analysis in the Semiconductor Manufacturing Industry

Publikation: Hochschulschrift/Abschlussarbeit › Masterarbeit

Beitragende

  • Ejaz Sajjar - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
QualifizierungsstufeMaster of Science
Betreuer:in / Berater:in
  • Greulich, Reinhard Stefan, Betreuer:in
PublikationsstatusVeröffentlicht - Juli 2023
Extern publiziertJa
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