Determination of minority carrier lifetimes in CuInSe2 thin films

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)3375-3377
Seitenumfang3
FachzeitschriftApplied Physics Letters
Ausgabenummer22
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1996
Peer-Review-StatusNein

Externe IDs

Scopus 0038743620