Deterioration and Breakdown Mechanisms in force-fitted current-carrying Connections between Aluminum and Tin

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Titel2021 IEEE SIXTY-SIXTH HOLM CONFERENCE ON ELECTRICAL CONTACTS (HLM)
Seiten1-7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2021
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 85124790948
ORCID /0000-0002-4793-8800/work/150330511

Schlagworte

Schlagwörter

  • aluminum, tin, bimetallic joint, long-term behavior, oxygen