Correlating IR-Drop Simulation Results with On-Chip Measurements
Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Titel | Design Automation Conference (DAC), Designer Track |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2014 |
| Peer-Review-Status | Ja |