Correlating IR-Drop Simulation Results with On-Chip Measurements

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/GutachtenBeitrag in KonferenzbandBeigetragenBegutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
TitelDesign Automation Conference (DAC), Designer Track
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
Peer-Review-StatusJa