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Forschungsportal der TU Dresden

Aktuelle Grenzen FIB-basierter Präparation für die Elektronenmikroskopie

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen

Beitragende

Markus Löffler - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)
Jin Huang - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)
Alexander Tahn - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)
Uwe Mühle - , Professur für Pulvermetallurgie, Sinter- und Verbundwerkstoffe (Autor:in)
Ehrenfried Zschech - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)

Details

Originalsprache	Deutsch
Titel	Werkstoffwoche Dresden 2015
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2015
Peer-Review-Status	Nein

Schlagworte