A FeFET based super-low-power ultra-fast embedded NVM technology for 22nm FDSOI and beyond
Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Titel | 2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) |
| Seiten | 19.7.1-19.7.4 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2018 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 85045216954 |
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