A comprehensive study on the structural evolution of HfO2 thin films doped with various dopants

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)4677-4690
Seitenumfang14
FachzeitschriftJournal of Materials Chemistry. C, Materials for optical and electronic devices
Jahrgang5
Ausgabenummer19
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

ORCID /0000-0003-3814-0378/work/54896731
Scopus 85021778266

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