Shafaei, S., Palaios, A., Ennaceur, Z., Zhang, J., Pandit, V., Gautam, P. & Gharouni, A.
& 32 weitere,
Gajic, B., Banerjee, B., Mallikarjun, S. B., Habibi, M. A., Duong, P. B., Mangiante, S., Khan, M. Q., Parvini, M., Schulz, P., Rauf, F., Franchi, N., Cavalcante, R. L. G., Fink, J., Reitz, P., Lübke, M., ReißLand, T., Husseini, A. E., Karaki, R., Seifaei, Z., Danger, M., Bockelmann, C., Bröring, A., Klas, G., Stanczak, S., Schotten, H. D., Fettweis, G. P., Jukan, A., Nguyen, G. T., Schaefer, R. F., Irmer, R., Wietfeld, C. & Dekorsy, A.,
4 Aug. 2025,
in: IEEE access. 13,
S. 143843-143874 32 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
