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Stress-based Electromigration Modeling in IC Design: Moving from Theory to Practice

Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/VeranstaltungenVortragBeigetragen

Datum

14 März 2024

Beschreibung

Group Seminar, Department of Electrical Engineering and Computer Engineering, University of Minnesota

Verknüpfte externe Organisation

OrganisationUniversity of Minnesota System
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