Ali, T., Kühnel, K., Olivo, R., Lehninger, D., Müller, F., Lederer, M. & Rudolph, M.
& 13 weitere,
Oehler, S., Mertens, K., Hoffmann, R., Zimmermann, K., Schramm, P., Metzger, J., Binder, R., Czernohorsky, M., Kämpfe, T., Seidel, K., Müller, J., Van Houdt, J. & Eng, L. M.,
Sept. 2021,
in: Electronic Materials. 2,
3,
S. 344-369 26 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung